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J-GLOBAL ID：201202248544122273   整理番号：12A0253866

フーリエ変換赤外透過スペクトルと2次元広角小角X線散乱の同時測定システムの開発とソフトマテリアルの構造発展過程追跡への応用

著者 (9件)： 田代孝二 (豊田工大) ,  吉岡太陽 (豊田工大) ,  山元博子 (豊田工大) ,  ニン トランハイ (豊田工大) ,  嶋田茂 (ブルカー・オプティクス) ,  中谷剛 (ブルカー・オプティクス) ,  岩本裕之 (JASRI) ,  太田昇 (JASRI) ,  増永啓康 (JASRI)
資料名： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
巻： 25th  ページ： 66  発行年： 2012年01月06日 
JST資料番号： L1310A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *小角X線散乱 ,  Fourier分光法 ,  同時計測 ,  軟質材料 ,  *赤外分光法 ,  *高分子薄膜 ,  赤外スペクトル ,  相転移 ,  結晶化 ,  アンジュレータ
準シソーラス用語： *広角X線散乱 ,  構造変化

分類 (2件)： X線回折法  (BK01020I) ,  赤外・遠赤外領域の分光法と分光計  (BD07042H)

タイトルに関連する用語 (13件)： フーリエ変換 ,  赤外 ,  透過スペクトル ,  2次元 ,  広角 ,  小角X線散乱 ,  同時測定 ,  開発 ,  ソフトマテリアル ,  発展 ,  過程 ,  追跡 ,  応用