KASTEN C. P. について
Massachusetts Inst. of Technol., Cambridge, Massachusetts 02139, USA について
IRBY J. H. について
Massachusetts Inst. of Technol., Cambridge, Massachusetts 02139, USA について
MURRAY R. について
Massachusetts Inst. of Technol., Cambridge, Massachusetts 02139, USA について
WHITE A. E. について
Massachusetts Inst. of Technol., Cambridge, Massachusetts 02139, USA について
PACE D. C. について
General Atomics, San Diego, California 92186-5608, USA について
Review of Scientific Instruments について
トカマク について
電子密度 について
ゆらぎ について
プラズマ診断 について
干渉計 について
勾配 について
モード について
復調 について
イオン温度 について
位相復調 について
差動モード について
密度勾配 について
二色干渉計 について
プラズマ診断 について
干渉法 について
電子密度 について
ゆらぎ について
診断 について