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J-GLOBAL ID：201202249461586401   整理番号：12A1245936

大型ヘリカルデバイスにおける高解像度X-線イメージ化結晶分光計のレイアウトおよび初期動作結果

Layout and results from the initial operation of the high-resolution x-ray imaging crystal spectrometer on the Large Helical Device

著者 (15件)： PABLANT N. A. (Princeton Plasma Physics Lab., Princeton, New Jersey 08543, USA) ,  BITTER M. (Princeton Plasma Physics Lab., Princeton, New Jersey 08543, USA) ,  DELGADO-APARICIO L. (Princeton Plasma Physics Lab., Princeton, New Jersey 08543, USA) ,  GOTO M. (National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, Gifu, JPN) ,  HILL K. W. (Princeton Plasma Physics Lab., Princeton, New Jersey 08543, USA) ,  LAZERSON S. (Princeton Plasma Physics Lab., Princeton, New Jersey 08543, USA) ,  MORITA S. (National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, Gifu, JPN) ,  ROQUEMORE A. L. (Princeton Plasma Physics Lab., Princeton, New Jersey 08543, USA) ,  GATES D. (Princeton Plasma Physics Lab., Princeton, New Jersey 08543, USA) ,  MONTICELLO D. (Princeton Plasma Physics Lab., Princeton, New Jersey 08543, USA) ,  NIELSON H. (Princeton Plasma Physics Lab., Princeton, New Jersey 08543, USA) ,  REIMAN A. (Princeton Plasma Physics Lab., Princeton, New Jersey 08543, USA) ,  REINKE M. (Plasma Sci. Fusion Center, Massachusetts Inst. of Technol., Cambridge, Massachusetts 02139-4307, USA) ,  RICE J. E. (Plasma Sci. Fusion Center, Massachusetts Inst. of Technol., Cambridge, Massachusetts 02139-4307, USA) ,  YAMADA H. (National Inst. for Fusion Sci., Toki 509-5292, Gifu, JPN)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 83  号： 8  ページ： 083506-083506-7  発行年： 2012年08月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 大型ヘリカルデバイス(LHD)におけるX-線イメージ結晶分光計(XICS)診断装置からの最初のイオンおよび電子温度プロファイル測定について報告する。この診断システムは2011年LHD実験キャンペーンの当初から運転されており,ヘリカルプラズマ構造に対するXICS診断の最初の適用である。XICS診断は,空間分解能2 cmで時分解能5 ms(典型的には20 ms)のLHDにおいてイオンと電子の温度プロファイルの測定に利用される。XICS診断から得られるイオン温度プロファイルは,電荷交換再結合分光法(CXRS)が可能でない(高密度)かまたはプラズマに対して変動する(低密度または高周波加熱プラズマ)条件下で可能である。測定は球状に曲げた結晶によって行い,ヘリウムに似たAr¹⁶⁺の線積分放射によるプラズマのスペクトル分解1Dイメージが得られる。最終的装置設計および構造について較正手順とともに詳述する。線積分したイオンおよび電子温度測定について報告し,測定精度について論じる。最後に,XICSシステムによる主要な温度測定をThomson散乱およびCXRSシステムによるデータと比較し,非常によく一致することを示す。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： ヘリオトロン ,  X線画像 ,  結晶 ,  高分解能 ,  *プラズマ分光 ,  イオン温度 ,  電子温度 ,  温度分布 ,  *X線スペクトロメータ ,  空間分解能 ,  時間分解能 ,  曲げ ,  球状 ,  アルゴン ,  多価イオン ,  発光スペクトル

分類 (1件)： プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (4件)： 大型 ,  高解像度 ,  イメージ ,  初期