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J-GLOBAL ID：201202249745303850   整理番号：12A1304520

亀裂を有するセラミックコンデンサの破壊電圧

Breakdown Voltages in Ceramic Capacitors with Cracks

著者 (1件)： TEVEROVSKY Alexander (Dell Serv. Federal Government, Inc., MD, USA)
資料名： IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation  (IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation)
巻： 19  号： 4  ページ： 1448-1455  発行年： 2012年08月 
JST資料番号： W0578A  ISSN： 1070-9878  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 27種類の無傷及び割れた,定格電圧が6.3から100VのX7R多層セラミックコンデンサ(MLCC)の破壊電圧を測定し,誘電耐圧(DWV)試験の故障部品を除く有効さを評価するために解析した。さらに,傷を持つMLCCの絶縁破壊の特性を調べた。部品の割れは機械的におよび熱ショックで加えた。その結果,MLCCの破壊電圧の定格電圧に対する比は10から80程度であり,定格電圧が低いほど高い。破壊電界は誘電体の厚さが4μmから60μmに増えると,~90V/μmから~20V/μmに下がり,本質的に電極の型(BMEまたはPEM)に依存しない。熱ショックで亀裂の入った13の異なるロットの大部分(~50%)のコンデンサの破壊電圧は本質的に変化しない。

シソーラス用語： 電圧 ,  *磁器コンデンサ ,  *亀裂 ,  熱刺激 ,  誘電体 ,  絶縁耐力 ,  電極 ,  多層 ,  絶縁破壊
準シソーラス用語： セラミックコンデンサ ,  絶縁耐圧 ,  熱ショック ,  *破壊電圧

分類 (2件)： 静電機器  (NB10020R) ,  セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V)

タイトルに関連する用語 (3件)： 亀裂 ,  セラミックコンデンサ ,  破壊電圧