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J-GLOBAL ID:201202249941466147   整理番号:12A0597585

Siウエハの計測評価技術におけるノイズフィルタに関する研究-Total variationを用いたフィルタ設計-

著者 (5件):
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巻: 2012  号: 春季(CD-ROM)  ページ: ROMBUNNO.F62  発行年: 2012年03月01日 
JST資料番号: Y0914A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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半導体材料であるウエハの平坦化の要求が高くなっており,それに伴い計測技術も高精度化が求められている。しかし,計測にはノイズが必ず発生するため,本研究ではノイズ除去のためのフィルタ設計の研究を行ってきた。本報告では,トータルバリエーションを用いた新たなフィルタの設計について提案し,そのノイズ除去性能結果について報告する。(著者抄録)
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分類 (1件):
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固体デバイス製造技術一般 

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