その場X線吸収分光法及び濃縮H<sub>2</sub>中でのCOとの嫌気性反応によるCu及びCe酸化物混合触媒中の活性レドックス酸素サイトの同定

ZHANG Rong; MILLER Jeffery T.; BAERTSCH Chelsey D.

文献

J-GLOBAL ID：201202251303939423 整理番号：12A1254298

その場X線吸収分光法及び濃縮H₂中でのCOとの嫌気性反応によるCu及びCe酸化物混合触媒中の活性レドックス酸素サイトの同定

Identifying the active redox oxygen sites in a mixed Cu and Ce oxide catalyst by in situ X-ray absorption spectroscopy and anaerobic reactions with CO in concentrated H₂

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資料名：
巻： 294 ページ： 69-78 発行年： 2012年10月
JST資料番号： H0480A ISSN： 0021-9517 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

混合銅セリウム酸化物触媒(Cu_0.07Ce_0.93O₂)の活性レドックス酸素サイト及び過剰H₂内でのCO選択酸化のための活性銅分子をX線回折(XRD)と共に嫌気性反応中にCuK端その場X線吸収分光法(XAS),紫外-可視-近赤外(UV-Vis-NIR)拡散反射分光法で調べた。嫌気性反応中で,その場*X線近吸収端分光(XANES)スペクトルの吸収端エネルギーは低エネルギー側にシフトし,白線強度は低下すし,CO酸化のために表面格子酸素の移動によってCu(II)がCu(I)に還元されることを示唆していることが分かった。加えて,嫌気性反応中の一連のフーリエ変換拡張X線吸収微細構造(EXAFS)スペクトルの第一殻Cu-Oピーク強度低下はCO酸化のための銅の第一酸素近傍の喪失を示していることが分かった。これらのことは実験的に初めて実証したものであり,銅セリウム酸化物触媒中の活性/不安定酸素はCu(II)の第一酸素近傍であり,それは触媒中の銅の光学吸着端エネルギーの還元についての紫外-可視研究で支持されていることが分かった。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

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その他の触媒 , 反応操作(単位反応) , 酸化,還元

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その場X線吸収分光法及び濃縮H2中でのCOとの嫌気性反応によるCu及びCe酸化物混合触媒中の活性レドックス酸素サイトの同定

その場X線吸収分光法及び濃縮H₂中でのCOとの嫌気性反応によるCu及びCe酸化物混合触媒中の活性レドックス酸素サイトの同定