抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
本論文では,光学スペクトルで半導体のバンドギャップを決定するために,より精密で信頼性が高い方法を利用する可能性を理論的および実験的に研究した。材料のバンドギャップの正確な値を自然に得る新しい方法を開発した。これは,理論的枠組みで数学的と現象学的理論に基づいた。このモデルをいくつかの材料の独立データ集合で試験した。この結果は,上述の方法で得られたバンドギャップ値が文献データと非常に良く一致することを示した。さらに,実験光学スペクトルを利用して,材料特性の指数を計算し,合理的な信頼性で材料を有効に診断した。そのため,この方法は,材料科学のために非常に有用で,便利なツールである。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.