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J-GLOBAL ID：201202254373643172   整理番号：12A1304753

酸化へテロ構造における二次元電子及び正孔気体間の結合界面の変動温度走査トンネル分光による局所プロービング

Local probing of coupled interfaces between two-dimensional electron and hole gases in oxide heterostructures by variable-temperature scanning tunneling spectroscopy

著者 (11件)： HUIJBEN M. (Univ. Twente, Enschede, NLD) ,  KOCKMANN D. (Univ. Twente, Enschede, NLD) ,  HUIJBEN J. (Univ. Twente, Enschede, NLD) ,  KLEIBEUKER J.E. (Univ. Twente, Enschede, NLD) ,  VAN HOUSELT A. (Univ. Twente, Enschede, NLD) ,  KOSTER G. (Univ. Twente, Enschede, NLD) ,  BLANK D.H.A. (Univ. Twente, Enschede, NLD) ,  HILGENKAMP H. (Univ. Twente, Enschede, NLD) ,  RIJNDERS G. (Univ. Twente, Enschede, NLD) ,  BRINKMAN A. (Univ. Twente, Enschede, NLD) ,  ZANDVLIET H.J.W. (Univ. Twente, Enschede, NLD)
資料名： Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics  (Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻： 86  号： 3  ページ： 035140.1-035140.5  発行年： 2012年07月 
JST資料番号： D0746A  ISSN： 1098-0121  CODEN： PRBMDO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *ヘテロ接合 ,  *チタン酸ストロンチウム ,  アルミン酸塩 ,  ランタン化合物 ,  *二次元電子ガス ,  正孔 ,  界面 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  電子構造 ,  状態密度 ,  電流電圧特性 ,  バンドギャップ ,  温度依存性 ,  バンド構造 ,  *スペクトロスコピー
準シソーラス用語： STM【顕微鏡】 ,  アルミン酸ランタン ,  *走査型トンネル分光法

分類 (1件)： 13-15族化合物を含まない半導体-半導体接合  (BM03083P)

タイトルに関連する用語 (7件)： 酸化 ,  テロ ,  電子 ,  正孔 ,  気体 ,  結合界面 ,  走査トンネル分光