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J-GLOBAL ID：201202256694608320   整理番号：12A1333105

放射能汚染の非侵入型深さプロファイリング用の主成分分析を用いた技術の進歩

The Advancement of a Technique Using Principal Component Analysis for the Non-Intrusive Depth Profiling of Radioactive Contamination

著者 (3件)： ADAMS Jamie C. (Lancaster Univ., Lancaster, GBR) ,  JOYCE Malcolm J. (Lancaster Univ., Lancaster, GBR) ,  MELLOR Matthew (Createc Ltd, Cumbria, GBR)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 59  号： 4,Pt.2  ページ： 1448-1452  発行年： 2012年08月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *深さプロフィル ,  *放射能汚染 ,  *主成分分析 ,  γ線スペクトル ,  スペクトロスコピー ,  放射線遮蔽
準シソーラス用語： γ線分光法

分類 (1件)： 環境の汚染及び防止  (MB02030K)

タイトルに関連する用語 (4件)： 放射能汚染 ,  侵入 ,  深さプロファイリング ,  主成分分析