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J-GLOBAL ID:201202257136748350   整理番号:12A1731630

高温壁MOCVD選択範囲で成長する六角錐GaNの形態制御

Morphology Control of Hot-Wall MOCVD Selective Area Grown Hexagonal GaN Pyramids
著者 (4件):
資料名:
巻: 12  号: 11  ページ: 5491-5496  発行年: 2012年11月 
JST資料番号: W1323A  ISSN: 1528-7483  CODEN: CGDEFU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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高温壁金属有機化学蒸着(MOCVD)によって成長したガリウム極性(0001)配向の六角錐GaNにおける{1101},{1102}および{1100}面の変化を研究した。その結果,成長温度やNH<sub>3</sub>およびトリメチルガリウム(TMGa)の流速のような過程パラメータを調節すると,この六角錐の形を制御できることがわかった。多様な各三角錐の(hkil)面におけるミラー指数の成長速度はR<sub>hkil</sub>として表される。小さなR<sub>hkil</sub>の面は目に見えるほど成長した。成長が動的に限定されたレジメになるとR<sub>1100</sub>が自動的に著しく減少した。この情報に基づいて,異なる3D構造の処理パラメータロードマップを作成した。短い成長時間(t<sub>short</sub><t<sub>trans</sub>:t<sub>trans</sub>は質量輸送と動的限定成長レジメ間の遷移時間)では,範囲I(高い成長温度と低いNH<sub>3</sub>流速)において頂点付近に{1102}面をもつ三角錐が成長した。{1102}面では成長時間が長くなるt<sub>long</sub>>t<sub>trans</sub>とR<sub>1102</sub>>0であるがR<sub>1101</sub>=0になるので成長が終了した。範囲II(高い成長温度と高いNH<sub>3</sub>流速)では,R<sub>0001</sub>>>R<sub>1101</sub>=0になるので短い成長時間と長い成長時間ではそれぞれ(0001)角錐台と針状突起が形成された。範囲IIIとIV(低い成長温度と低/高NH<sub>3</sub>流速)では成長時間が長くなると動的限定レジメになって,縦{1100}面が表れた。また一方,範囲IIIでは{1102}面が表れるが,VIでは表れなかった。{1102}面を示す錐体は特に頂点付近で不規則になりやすい。範囲IIが最も均一な錐体になりやすく,範囲IIIやIVでは成長時間が長くなっても(0001)面の切り取りが消失しないことは注目に値する。
シソーラス用語:
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分類 (2件):
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固-固界面  ,  半導体薄膜 
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