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J-GLOBAL ID：201202257342468010   整理番号：12A1445202

物質探索のためのサブナノ秒スーパーコンティニウム光源を用いた全場光コヒーレンス顕微鏡法

Full-field optical coherence microscopy with a sub-nanosecond supercontinuum light source for material research

著者 (7件)： HEISE Bettina (Christian Doppler Lab. for Microscopic and Spectroscopic Material Characterization (CDL MS-MACH), ZONA, Johannes ...) ,  SCHAUSBERGER Stefan E. (Christian Doppler Lab. for Microscopic and Spectroscopic Material Characterization (CDL MS-MACH), ZONA, Johannes ...) ,  HAEUSER Soeren (Mathematical Image Processing and Data Analysis, Dep. of Mathematics, TUKaiserslautern, Paul-Ehrlich-Strasse31 ...) ,  PLANK Bernhard (Univ. of Applied Sciences, Upper Austria, Stelzhamerstrasse23, A-4600Wels, AUT) ,  SALABERGER Dietmar (Univ. of Applied Sciences, Upper Austria, Stelzhamerstrasse23, A-4600Wels, AUT) ,  LEISS-HOLZINGER Elisabeth (Res. Center for Non Destructive Testing GmbH (RECENDT) Sci. Park2/Altenberger Strasse69, A-4040Linz, AUT) ,  STIFTER David (Christian Doppler Lab. for Microscopic and Spectroscopic Material Characterization (CDL MS-MACH), ZONA, Johannes ...)
資料名： Optical Fiber Technology  (Optical Fiber Technology)
巻： 18  号： 5  ページ： 403-410  発行年： 2012年09月 
JST資料番号： W1605A  ISSN： 1068-5200  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Qスイッチマイクロチップレーザ励起フォトニック結晶ファイバに基づいたスーパーコンティニウム光源を用いて,全場光コヒーレンス顕微鏡法を行った。繊維強化高分子の詳細な解析によって,このイメージング法を実証した。得られた三次元データの先進的なデータ処理だけでなく,X線計算機トモグラフィーによる比較解析を用いて,繊維方位や点欠陥構造分布のような物理パラメータについての情報を復元した。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *連続スペクトル ,  *コヒーレンス ,  *顕微鏡観察 ,  固体レーザ ,  光ファイバ ,  繊維強化プラスチック ,  計算機トモグラフィー ,  点欠陥
準シソーラス用語： *スーパーコンティニウム ,  光コヒーレンス ,  顕微鏡法 ,  マイクロチップレーザ ,  フォトニック結晶ファイバ ,  繊維強化高分子

分類 (2件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S) ,  光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (8件)： 物質 ,  探索 ,  サブ ,  ナノ秒 ,  スーパーコンティニウム ,  場 ,  光コヒーレンス ,  顕微鏡法