文献

J-GLOBAL ID：201202257501477425   整理番号：12A1166256

低アスペクト比トーラス実験装置中の電位測定のためのイオンビームプローブシステムの開発

Development of an Ion Beam Probe System for Potential Measurement in the Low Aspect-Ratio Torus Experiment Device

著者 (7件)： TANAKA Hitoshi (Graduate School of Energy Sci., Kyoto Univ.) ,  OMI Shota (Graduate School of Energy Sci., Kyoto Univ.) ,  KATSUMA Jun (Graduate School of Energy Sci., Kyoto Univ.) ,  YAMAMOTO Yurie (Graduate School of Energy Sci., Kyoto Univ.) ,  UCHIDA Masaki (Graduate School of Energy Sci., Kyoto Univ.) ,  MAEKAWA Takashi (Graduate School of Energy Sci., Kyoto Univ.) ,  IGUCHI Harukazu (National Inst. for Fusion Sci.)
資料名： 電気学会論文誌 A  (IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials)
巻： 132  号： 7  ページ： 567-573 (J-STAGE)  発行年： 2012年 
JST資料番号： S0808A  ISSN： 0385-4205  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： LATE装置において電子Bernstein波によって生成され維持される低アスペクト比トーラスプラズマ中において閉じ込め及び輸送特性を研究するため,電位測定用のイオンビームプローブシステムを開発している。コンポネント試験の後,LATEに入射及び検出ビームラインを設置し,トロイダル磁場の真空中にイオンビームを入射し,マトリックスプレート検出器を用いてビーム位置及び分布を観測した。ビーム位置をスイーパ及び偏向器電圧によって正確に制御できることを確認した。電位差~1Vを検出するためのエネルギーアナライザの基礎的設計が完了した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *トカマク ,  *プラズマ診断 ,  電気測定 ,  ビームライン ,  位置制御 ,  トロイダル磁場 ,  イオンビーム ,  プラズマ閉込め
準シソーラス用語： イオンビーム入射 ,  エネルギーアナライザ ,  プラズマ輸送 ,  *球状トカマク ,  低アスペクト比 ,  電位測定 ,  電子Bernstein波加熱

分類 (1件)： プラズマ診断  (BJ02090L)

引用文献 (15件)：

• (1) T. P. Crowley: IEEE Trans. Plasma Sci., Vol. 22, p. 291 (1994)
• (2) G. A. Hallock et al.: Phys. Rev. Lett., Vol. 56, p. 1248 (1986)
• (3) T. P. Crowley, et al.: Nucl. Fusion, Vol. 32, p. 1295 (1992)
• (4) Y. Hamada, et al.: Plasma Phys. Control. Fusion, Vol. 36, p. 1743 (1994)
• (5) A. Fujisawa, et al.: Phys. Rev. Lett., Vol. 81, p. 2256 (1998)

タイトルに関連する用語 (5件)： 低アスペクト比 ,  トーラス ,  実験装置 ,  電位測定 ,  開発