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J-GLOBAL ID：201202258380305628   整理番号：12A1095189

引張-圧縮疲れ亀裂成長試験用の両エッジ切欠き試験片設計

A double edge notch specimen design for tension-compression fatigue crack growth testing

著者 (3件)： NARASIMHACHARY S.b. (Dep. of Mechanical Engineering, Univ. of Arkansas, Fayetteville, AR 72701, USA) ,  SAXENA A. (Dep. of Mechanical Engineering, Univ. of Arkansas, Fayetteville, AR 72701, USA) ,  NEWMAN J.c. (Dep. of Aerospace Engineering, Mississippi State Univ., Starkville, MS 39762, USA)
資料名： Engineering Fracture Mechanics  (Engineering Fracture Mechanics)
巻： 92  ページ： 126-136  発行年： 2012年09月 
JST資料番号： A0119A  ISSN： 0013-7944  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 小型,C(T),試験片は一定荷重振幅条件下で疲れとクリープ疲れの亀裂成長試験に通常使用される。標準C(T)試験片[ASTM]の使用は正の荷重比に限定される。また,それらは試験片にラチェッティングをもたらす塑性および/またはクリープの歪の蓄積による高い応力強度値で発展する亀裂成長データの量で限定される。変位制御下の試験はC(T)形状が不適切である荷重制御試験のこれらの欠点を潜在的に取扱うことができる。変位制御クリープ疲れ亀裂成長試験を行うための両エッジ切欠き引張-圧縮,DEN(T-C),試験片を開発し,有限要素解析と境界要素解析の支援を得て最適化した。荷重を加えるために試験片の円柱状端部にねじ山を設けた。試験片部分は,半分幅,W,半分高さ,H,および一定厚さ,B,の長方形であった。試験片の高さ対幅比,H/W,を低く保って圧縮荷重中の座屈を避け,一方,応力強度パラメータ値が選ばれたH/W値に強く依存しないことを確かにした。単純な最適化解析は,1.2のH/W比がこれらの要求に最もよく合うであろうことを示した。しかし実際の実験の実行のみが,H/W値のこの選択が最適か否かをはっきりさせるであろう。有限要素解析では,試験片の2端での偶部領域を構成する1.46の有効高さ(h_eff)対幅(W)比,h_eff/W,を用いて試験片をモデル化した。DEN(T-C)試験片の広い範囲にわたって応力強度パラメータ,K,亀裂開口変位(CMOD),および荷重-線変位(LLD)のような破壊力学亀裂先端パラメータを推定する正確な式を開発した。また,試験片コンプライアンスの関数として亀裂サイズの式を開発した。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： 圧縮 ,  引張 ,  疲れ亀裂成長 ,  疲れ試験 ,  *CT試験片 ,  *クリープ疲れ ,  数値解析 ,  *形状最適化 ,  境界要素法 ,  応力拡大係数 ,  コンプライアンス
準シソーラス用語： 有限要素解析

分類 (1件)： 疲れ一般  (HC05010H)

タイトルに関連する用語 (6件)： 引張 ,  疲れ亀裂成長 ,  試験 ,  エッジ ,  切欠き試験片 ,  設計