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J-GLOBAL ID:201202259672816514   整理番号:12A1602314

点集束超音波分光法を使用した膜の局所的縦方向および横方向の波速度,減衰,密度,および厚さの同時測定

Simultaneous measurement of local longitudinal and transverse wave velocities, attenuation, density, and thickness of films by using point-focus ultrasonic spectroscopy
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巻: 112  号:ページ: 084910-084910-8  発行年: 2012年10月15日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文は,高い横分解能を与える点集束超音波分光法を用いた,膜または2つの既知の物質の間に埋め込まれた層状物質の薄層の音響的,幾何学的性質の完全な組の同時定量のための超音波技術を提示する。層状物質の2次元スペクトルRt(θ,ω)の理論モデルを未知の層の6つのパラメータ,すなわち膜の性質を完全に決定した縦方向および横方向の速度cl,ct,減衰αlt,密度ρ,および厚さの関数として計算する。実験スペクトルRe(θ,ω)は,V(z,t)法によって測定することができる。パラメータの探索プロセスを1つの6次元空間から2つの3次元空間への分解するための2段階のアルゴリズムを示す。実験的なノイズに対して,個々の性質とその安定性に対する2次元スペクトルの感度を研究する。250μmの厚さのステンレス鋼膜と水に浸漬した3層層状物質の930μm厚のSiO2薄膜の完全な特性を決定する。提案した手法は点集束トランスデューサを用いたが,これはセットアップを簡単で信頼性のあるものにする。それは膜の局所的特性の測定を可能にし,高精度の物質特性評価を可能にする。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
音波伝搬  ,  固体の音波物性一般 

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