文献

J-GLOBAL ID：201202262209211566   整理番号：12A0712353

炭化ホウ素セラミックの低温接合

Low-temperature joining of boron carbide ceramics

著者 (5件)： SEKINE Kiyoto (Stereo Fabric Res. Assoc.) ,  KUMAZAWA Takeshi (Technical Res. Lab., Mino Ceramic Co., Ltd.) ,  TIAN Wu-bian (Stereo Fabric Res. Assoc.) ,  HYUGA Hideki (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST)) ,  KITA Hideki (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST))
資料名： Journal of the Ceramic Society of Japan  (Journal of the Ceramic Society of Japan)
巻： 120  号： 1401  ページ： 207-210 (J-STAGE)  発行年： 2012年 
JST資料番号： F0382A  ISSN： 1882-0743  CODEN： JCSJEW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Al板を用いた炭化ホウ素(B₄C)セラミックの低温接合を真空中(10^-2-10^-4Pa),温度範囲600~200°C,2hにおいて調べた。700~1100°Cで接合した試料で,B₄C母材と同等の高い曲げ強さの接合に成功した。走査電子顕微鏡(SEM),電子プローブX線微小分析(EPMA)および透過型電子顕微鏡(TEM)などの各種方法を用い,高強度B₄C継手のキャラクタリゼーションを行った。SEMにより,緻密な中間層,亀裂のない界面,およびB₄C母材の表面微小亀裂へのAlの浸透が観察された。EPMA分析では,高強度複合材料の中間層の進展をもたらすAlB₂やAl₃BCなどが,中間層内に反応生成物として存在することを示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *炭化ホウ素 ,  *接合 ,  低温 ,  アルミニウム ,  金属板 ,  圧接 ,  温度依存性 ,  真空 ,  曲げ強さ ,  サンドイッチ構造 ,  継手【接合】 ,  *表面構造 ,  層 ,  亀裂 ,  浸透 ,  析出物 ,  炭化物 ,  ホウ化物 ,  アルミニウム化合物 ,  走査電子顕微鏡 ,  電子プローブX線分析 ,  透過型電子顕微鏡 ,  界面構造 ,  中間層 ,  機械的性質 ,  強度 ,  *構造

分類 (1件)： セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V)

引用文献 (14件)：

• 1) F. Thevenot, J. Eur. Ceram. Soc., 6, 205–225 (1990).
• 2) M. A. Kuzenkova, P. S. Kislyi, B. L. Grabchuk and N. I. Bodnaruk, J. Less-Common Met., 67, 217–223 (1979).
• 3) B. V. Cockeram, “The diffusion bonding of silicon carbide and boron carbide using refractory metals”, DOE’s Office of Scientific and Technical Information, USDOE Contract No. DE-AC11-98PN38206 (1999).
• 4) T. Kumazawa, T. Honda, Y. Zhou, H. Miyazaki, H. Hyuga and Y. Yoshizawa, J. Ceram. Soc. Japan, 116, 1319–1321 (2008).
• 5) H. Miyazaki, Y. Zhou, H. Hyuga, Y. Yoshizawa and T. Kumazawa, J. Eur. Ceram. Soc., 30, 999–1005 (2010).

タイトルに関連する用語 (3件)： 炭化ホウ素 ,  セラミック ,  低温接合