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J-GLOBAL ID：201202263940529946   整理番号：12A1106124

距離ゲートイメージングと能動偏光測定のための均質スペックルフリーレーザ照射

Homogeneous and speckle-free laser illumination for range-gated imaging and active polarimetry

著者 (5件)： LAURENZIS Martin (French-German Res. Inst. of Saint-Louis, Saint-Louis, FRA) ,  LUTZ Yves (French-German Res. Inst. of Saint-Louis, Saint-Louis, FRA) ,  CHRISTNACHER Frank (French-German Res. Inst. of Saint-Louis, Saint-Louis, FRA) ,  MATWYSCHUK Alexis (French-German Res. Inst. of Saint-Louis, Saint-Louis, FRA) ,  POYET Jean-Michel (French-German Res. Inst. of Saint-Louis, Saint-Louis, FRA)
資料名： Optical Engineering  (Optical Engineering)
巻： 51  号： 6  ページ： 061302.1-061302.8  発行年： 2012年06月 
JST資料番号： B0577B  ISSN： 0091-3286  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 距離ゲートイメージングシステムは,パルス照射の情景から反射した光のゲート受信に基づいている。高反射率の物体の計測に有効であり,長距離観測,三次元イメージング,ターゲット認識,トモグラフィーなどに利用できる。能動偏光測定を利用したシステムでは,照射デバイスが重要である。本論文では,分離ゲートイメージングと能動偏光測定でのレーザ照射法について検討した。均質スペックルフリーレーザ照射のための単純な照射デバイスを提案した。導波路均質化技術を利用して,透過効率を高めた。また,空間変化法を利用して,ビルトインスペックルを低減した。固体レーザ光源や半導体レーザダイオード光源でこの効果を検討した。この結果,スペックルが1/4.5に低減することを実証した。これらの照射デバイスは,距離ゲートイメージングと能動偏光測定での均質スペックルフリーレーザ照射に有効であることを示した。

シソーラス用語： *画像診断 ,  半導体レーザ ,  トモグラフィー ,  ターゲット ,  *スペックル ,  *レーザ照射 ,  固体レーザ ,  *偏光測定 ,  レーザビーム ,  三次元測定 ,  画像処理システム ,  距離測定
準シソーラス用語： レーザダイオード ,  距離ゲートイメージング ,  三次元イメージング

分類 (2件)： 偏光測定と偏光計  (BD07050K) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： ゲート ,  イメージング ,  偏光測定 ,  スペックル ,  レーザ照射