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J-GLOBAL ID：201202264297685079   整理番号：12A0626876

マイクロコンピュータ化トモグラフィーにより調べた送電線の使用中劣化複合絶縁体

In-Service Aged Composite Insulators at Transmission Line Investigated by the Micro-Computerized Tomography

著者 (5件)： SILVA Pietro P. J. C. (UFPE - Federal Univ. of Pernambuco, Dep. of Mechanical Engineering) ,  SHINOHARA Armando H. (UFPE - Federal Univ. of Pernambuco, Dep. of Mechanical Engineering) ,  PACHECO Admilson P. (UFPE - Federal Univ. of Pernambuco, Dep. of Mechanical Engineering) ,  CASTRO FILHO Zurdival P. (CHESF - Companhia Hidroeletrica do Sao Francisco) ,  MONTEIRO Sergio L. P. (CHESF - Companhia Hidroeletrica do Sao Francisco)
資料名： Materials Transactions  (Materials Transactions)
巻： 53  号： 4  ページ： 617-620 (J-STAGE)  発行年： 2012年 
JST資料番号： G0668A  ISSN： 1345-9678  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 約10年間使用した230kV送電線複合絶縁体の脆性破壊が発生した部位を,マイクロコンピュータトモグラフィー法,μ-CT及び走査型電子顕微鏡(SEM)を用いて調べた。μ-CT法で検査した結果,シリコーンハウジング内に閉じこめられた汚染物質スケールに様々な深さのクラックが検出された。シリコーンハウジングの表面をSEMで観察したところ,マイクロサイズのランダム配向クラックが観察された。しかしながら,大型クラックは棒状複合材の軸と直角方向に配向している事がμ-CT法による調査結果から判明した。複合絶縁体におけるこれらの大型クラック生成挙動を明らかにするために,μ-CT及びSEMデータに基づくモデルを提案した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： マイクロコンピュータ ,  *送電線 ,  断面 ,  *絶縁材料 ,  劣化 ,  X線CT ,  汚染物質 ,  亀裂 ,  脆性破壊 ,  トモグラフィー ,  ポリシロキサン ,  *絶縁体
準シソーラス用語： ミクロトモグラフィ

分類 (3件)： 電力線路要素・工事  (NB05020V) ,  絶縁材料  (NA04030W) ,  パターン認識  (JE07000S)

引用文献 (14件)：

• CHERNEY, E. A. IEEE Trans. PAS. 1983, 1226-1234
• Cigre Study Committee 22. Report on Worldwide Experience with HV Composite Insulators. 1989
• SCHNEIDER, H. M. IEEE Trans. Power Deliv. 1989, 1, 2214-2221
• TOURREIL, C. Proc. the XIVth Int. Symp. on High Voltage Engineering, 2005. 2005
• PAIVA, O. L. S. INMR-World Congress & Exhibition on Insulators, 2007. 2007, 1-9

タイトルに関連する用語 (4件)： マイクロコンピュータ ,  トモグラフィー ,  送電線 ,  複合絶縁体