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J-GLOBAL ID：201202264445457790   整理番号：12A0121708

ファセット反射率の波長規模の変調を用いた単一横モード中赤外レーザダイオード

Single lateral mode mid-infrared laser diode using wavelength-scale modulation of the facet reflectivity

著者 (7件)： NASH G. R. (Coll. of Engineering, Mathematics and Physical Sciences, Univ. of Exeter, Exeter EX4 4QF, GBR) ,  STOKES J. L. (Dep. of Electrical and Electronic Engineering, Univ. of Bristol, Bristol BS8 1UB, GBR) ,  PUGH J. R. (Dep. of Electrical and Electronic Engineering, Univ. of Bristol, Bristol BS8 1UB, GBR) ,  PRZESLAK S. J. B. (Dep. of Electrical and Electronic Engineering, Univ. of Bristol, Bristol BS8 1UB, GBR) ,  HEARD P. J. (Interface Analysis Centre, Univ. of Bristol, Bristol BS8 1UB, GBR) ,  RARITY J. G. (Dep. of Electrical and Electronic Engineering, Univ. of Bristol, Bristol BS8 1UB, GBR) ,  CRYAN M. J. (Dep. of Electrical and Electronic Engineering, Univ. of Bristol, Bristol BS8 1UB, GBR)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 100  号： 1  ページ： 011103  発行年： 2012年01月02日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 発光ファセット上の波長規模の金属開口パターンの形成前後の中赤外レーザダイオードの特性を調べた。ファセット修飾前の発光スペクトルは種々の空間モードに関係する多数のピークから構成されたが,修飾後のスペクトルは単一ピークが優勢であった。シミュレーションでは,ファセットのパターン形成は各横モードに対して実効反射率を変化させ,測定したスペクトルのピークが修飾ファセットから最も強く反射した単一横モードに関係することを示唆した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 反射率 ,  横モード ,  *赤外レーザ ,  *半導体レーザ ,  *発光スペクトル ,  計算機シミュレーション ,  ファセット
準シソーラス用語： *中赤外レーザ

分類 (1件)： 半導体レーザ  (BD04070L)

タイトルに関連する用語 (8件)： ファセット ,  反射率 ,  波長 ,  規模 ,  変調 ,  横モード ,  中赤外レーザ ,  ダイオード