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J-GLOBAL ID：201202265600879589   整理番号：12A0684157

MgO(100)上の異方性分子構造を持つNafion薄膜のプロトン輸送特性

Proton Transport Property of Nafion Thin Films on MgO(100) with Anisotropic Molecular Structure

著者 (1件)： NAGAO Yuki (Div. of Chemistry, Graduate School of Sci., Kyoto Univ., JPN)
資料名： e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)  (e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web))
巻： 10  ページ： 114-116 (J-STAGE)  発行年： 2012年 
JST資料番号： U0016A  ISSN： 1348-0391  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： MgO(100)基板上Nafion薄膜のプロトン輸送特性を調べるため,60と400nm厚薄膜のインピーダンス測定を行った。2つの薄膜のプロトン伝導性は,市販Nafion膜のものと比べ,かなり小さく,プロトン伝導性の厚さ依存性も認められた。MgO(100)上同一400nm厚の膜の面内と面外分子振動を調べるため,赤外p-偏光多角入射角度分解分光法(p-MAIRS)法を実行した。面内スペクトルでは,周知スペクトルを示したが,面外スペクトルは,面内スペクトルと比べ,かなり異なった。大きく異なる形状のスペクトルで,400nm厚Nafionが異方性分子構造を持つことを明らかにした。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *フッ素樹脂 ,  *陽イオン交換樹脂 ,  *薄膜 ,  *基板 ,  *酸化マグネシウム ,  分子構造 ,  異方性 ,  *プロトン移動 ,  *特性 ,  膜厚 ,  電気測定 ,  依存性 ,  変位 ,  分子振動 ,  面外振動 ,  偏光分光法 ,  角度分解分光法 ,  入射角 ,  インピーダンス測定 ,  面内変位 ,  厚み依存性
準シソーラス用語： *Nafion ,  *プロトン輸送 ,  *輸送特性 ,  厚さ依存性

分類 (3件)： ハロゲン含有重合体  (YH07100Z) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  固体中の拡散一般  (BL06021L)

引用文献 (17件)：

• [1] S. Ma, Z. Siroma, and H. Tanaka, J. Electrochem. Soc. 153, A2274 (2006).
• [2] Y. Nagao, M. Ando, H. Maekawa, C. H. Chang, F. Iguchi, and N. Sata, ECS Transactions 16, 401 (2008).
• [3] Y. Nagao, N. Naito, F. Iguchi, N. Sata, and H. Yugami, e-J. Surf. Sci. Nanotech. 7, 530 (2009).
• [4] Y. Nagao, N. Naito, F. Iguchi, N. Sata, and H. Yugami, Solid State Ionics 180, 589 (2009).
• [5] Y. Nagao, F. Iguchi, N. Sata, and H. Yugami, Solid State Ionics 181, 206 (2010).

タイトルに関連する用語 (7件)： MgO ,  異方性 ,  分子構造 ,  Nafion ,  薄膜 ,  プロトン ,  輸送特性