陽子衝撃によるN<sub>2</sub>分子の単一電子イオン化における干渉効果の理論的研究

TACHINO C A; MARTIN F; MARTIN F; RIVAROLA R D

文献

J-GLOBAL ID：201202266421610956 整理番号：12A1299341

陽子衝撃によるN₂分子の単一電子イオン化における干渉効果の理論的研究

Theoretical study of interference effects in single electron ionization of N₂ molecules by proton impact

出版者サイト複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=12A1299341&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=12A1299341&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0913A") }}

著者 (4件)： , , ,
資料名：
巻： 45 号： 2 ページ： 025201,1-025201,9 発行年： 2012年01月28日
JST資料番号： B0913A ISSN： 0953-4075 CODEN： JPAPEH 資料種別：逐次刊行物 (A)
発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

, , , , , , , ,

前のページに戻る

陽子衝撃によるN2分子の単一電子イオン化における干渉効果の理論的研究

陽子衝撃によるN₂分子の単一電子イオン化における干渉効果の理論的研究