文献

J-GLOBAL ID：201202266673300321   整理番号：12A0928674

ナノ計測の次世代AFM撮像モードが得られるQI

著者 (2件)： HASCHKE Heiko (JPK Instruments AG) ,  JAEHNKE Torsten (JPK Instruments AG)
資料名： Laser Focus World Japan  (Laser Focus World Japan)
号： May  ページ： 22-25  発行年： 2012年05月10日 
JST資料番号： L5426A  資料種別： ニュースレター (N)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (5件)： ナノ計測 ,  次世代 ,  AFM ,  撮像 ,  QI