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J-GLOBAL ID:201202266933011680   整理番号:12A0057521

電子回折の画像処理による二次元結晶格子パラメータのオフライン推定

Offline estimation of 2D crystal lattice parameters by processing the electron diffraction image
著者 (4件):
資料名:
巻: 285  号:ページ: 609-616  発行年: 2012年03月01日 
JST資料番号: A0678B  ISSN: 0030-4018  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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電子回折は,材料の内部組成に関する有用な情報を与える。50年以上,材料科学者に利用されている。オフライン回折画像から有用な情報を抽出するために,いくつかの測光技術を利用して,回折画像をマニュアルで解析した。しかし,手動解析は厄介で,面倒で,困難なタスクであった。材料科学者の労力を減らすために,広く使われている画像処理技術は一般性が高く,証拠が明瞭であるために,画像処理技術を用いて,自動解析を実行した。この研究では,回折画像から二次元単位格子情報を抽出し,格子に含まれる二次元グループ点を検出するために,画像処理技術を提案した。この技術では,形態的収縮を用いて,前処理回折画像での各スポットの中心を見つけた。伝達電子ビームで生成されたスポットに関して,八つの点を抽出した。九つの点を得た。すなわち,伝達電子ビームにより発生した基準スポットと抽出された八つの点であった。次に,極地座標系で回転対称性と鏡対称性の対称性操作を実行して,電子回折で生成した格子の点グループを分類した。困難なタスクの一つ,手動解析でさえ,画像の実現の時に伝達電子ビームがサンプルに当たる厳密なスポットを確かめた。回折スポットの間で,グレイ値が最も高くなり,伝達スポットの画素数が大きいという概念を用いて,正確に直観的にこれを実行した。提案した戦略を多様な画像のサンプルセットに適用して,二次元で単位格子を決定する上でこの技術が効率的であり,良好な精度で点群を分類することを示した。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
図形・画像処理一般  ,  結晶学一般 

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