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J-GLOBAL ID:201202267260521180   整理番号:12A1549691

被覆SiO2シェルの厚さに依存するCoFe2O4ナノ粒子の表面異方性変化

Surface anisotropy change of CoFe2O4 nanoparticles depending on thickness of coated SiO2 shell
著者 (6件):
資料名:
巻: 14  号: 10  ページ: 1-9  発行年: 2012年10月 
JST資料番号: W1361A  ISSN: 1388-0764  CODEN: JNARFA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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著者らは,SiO2シェルの厚さに依存するCoFe2O4ナノ粒子の有効表面異方性を系統的に調べた。XRD(粉末X線回折)図形とTEM(透過型電子顕微鏡法)像を,それぞれ粒子の構造とSiO2シェルの厚さとを調べるのに利用した。CoFe2O4ナノ粒子上の5.41nmを有するSiO2シェルの厚さを,TEOSの添加量を0.10,0.25,0.50,1.00,1.50および2.50mLだけ変化させることで,14.04±0.05nmまで増加させた。SiO2シェル厚さの増加は,Vogel-Fulcher方程式から求めた粒子間の磁気双極子相互作用の有効性の低下に起因して,有効な異方性を減少させた。Keff値の低下は,1.5mLより高いTEOS量に対して,約(3.76±0.11)×105J/m3で安定した。Copyright 2012 Springer Science+Business Media B.V. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
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酸化物薄膜  ,  磁気異方性・磁気機械効果一般 
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