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J-GLOBAL ID：201202268929853016   整理番号：12A0599595

蛍光X線分析法による鉱石及び土壌の化学分析

Evaluation of Chemical Compositions of Ore and Soil Samples Using X-Ray Fluorescence Spectrometric Analysis

著者 (3件)： 丸茂克美 (産業技術総合研 地質情報研究部門) ,  小野木有佳 (産業技術総合研 地質情報研究部門) ,  野々口稔 (東電設計)
資料名： X線分析の進歩  (X線工業分析)
巻： 43  ページ： 181-200  発行年： 2012年03月31日 
JST資料番号： Z0547B  ISSN： 0911-7806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： エネルギー分散型蛍光X線分析装置にX線CCDカメラを装着した蛍光X線透視分析装置を用いて,鉱物の粒子径が鉱石や土壌の蛍光X線分析値に与える影響を評価した。石英,硬石膏,黄鉄鉱,黄銅鉱,閃亜鉛鉱,重晶石,方鉛鉱はそれぞれ1.48mm以下,1mm以下,0.39mm以下,0.21mm以下,0.20mm以下,0.21mm以下,0.30mm以下,0.10mm以下の粒子径の場合にはX線管球電圧が50kV以下でX線が透過するものの,粒子径がそれぞれ2.35mm以上,2mm以上,0.39mm以上,0.46mm以上,0.32mm以上,0.47mm以上,0.21mm以上の場合にはX線管球電圧が50kVではX線が透過できない。蛍光X線分析の精度に対する鉱物粒子径の影響を把握するには,鉱物粒子のX線透視像が消滅するときのX線管球電圧(X線透視像消滅電圧)を測定することが有効である。X線透視像消滅電圧は鉱物粒子径が大きいほど,また鉱物の比重が大きいほど高い電圧となる。X線透視像消滅電圧の測定は鉛汚染土壌などの分析でも必要である。(著者抄録)

シソーラス用語： *エネルギー分散蛍光X線分析 ,  *CCDカメラ ,  *X線画像 ,  *鉛 ,  重金属汚染 ,  *鉱石 ,  *土壌 ,  粒度依存性 ,  固有X線 ,  比率 ,  精度 ,  検量線 ,  *汚染土壌 ,  鉛汚染 ,  環境汚染
準シソーラス用語： *X線CCDカメラ ,  *X線透視画像 ,  *エネルギー分散型蛍光X線分析 ,  検出精度 ,  減衰率 ,  特性X線

分類 (4件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  分光分析  (CC03012W) ,  土壌汚染  (FB04100T) ,  選鉱の予備処理・給鉱  (UA07030Y)

引用文献 (10件)：

• 1) 丸茂克美, 氏家 亨, 江橋俊臣:X線分析の進歩, 36, 17(2005).
• 2) JIS K0470土砂類中の全ひ素及び全鉛の定量(エネルギー分散方式蛍光X線分析法), (2008), (日本規格協会).
• 3) 石橋輝一, 山崎慎一, 浅田正三, 岡田 章, 村上雅志, 濱本亜希, 小野昭紘, 柿田和俊, 坂田 衡:BUNSEKI KAGAKU, 55(7), 509 (2006).
• 4) 中村利廣, 浅田正三, 石橋輝一, 岡田 章, 川瀬 晃, 中野和彦, 濱本亜希, 坂東 篤, 村上雅志, 小野昭紘, 吉原 登, 柿田和俊, 坂田 衡, 瀧本憲一:BUNSEKI, KAGAKU, 57(3), 191(2008).
• 5) 丸茂克美, 江橋俊臣, 氏家 亨:資源地質, 53, 125(2003).

タイトルに関連する用語 (4件)： 蛍光X線分析法 ,  鉱石 ,  土壌 ,  化学分析