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J-GLOBAL ID：201202269572770733   整理番号：12A0652237

BiFeO₃/ZnOヘテロ接合の電流電圧特性に及ぼすLaおよびMnドーパントの影響

Influence of La and Mn dopants on the current-voltage characteristics of BiFeO₃/ZnO heterojunction

著者 (4件)： XU Jianlong (Inst. of Microelectronics, Tsinghua National Lab. for Information Sci. and Technol., Tsinghua Univ., Haidian ...) ,  JIA Ze (Inst. of Microelectronics, Tsinghua National Lab. for Information Sci. and Technol., Tsinghua Univ., Haidian ...) ,  ZHANG Naiwen (Inst. of Microelectronics, Tsinghua National Lab. for Information Sci. and Technol., Tsinghua Univ., Haidian ...) ,  REN Tianling (Inst. of Microelectronics, Tsinghua National Lab. for Information Sci. and Technol., Tsinghua Univ., Haidian ...)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 111  号： 7  ページ： 074101-074101-9  発行年： 2012年04月01日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： BiFeO₃/ZnOヘテロ接合の電流電圧特性に及ぼすLaおよびMnドーパントの影響について調べた。BiFeO₃/ZnOと比べて,(Bi_0.95La_0.05)FeO₃/ZnOおよびBi(Fe_0.95Mn_0.05)O₃/ZnOでは電流密度(J)およびダイオード的振舞いの増大が明らかに観測された。ダイオード的振舞いは,強誘電性層の分極のスイッチングおよびその結果による界面電荷分布から生じることを見出した。LaおよびMnドーパント誘起電流密度およびダイオード的振舞いの増大についての物理的起源を理解するために強誘電体-半導体(FS)モデルを提案した。伝導機構のさらなる研究により,低電場における主な伝導機構はLaとMnドーパントにより変わるが,高電場では同じままであることを明らかにした。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *ビスマス化合物 ,  *鉄化合物 ,  *酸化物 ,  *酸化亜鉛 ,  *ヘテロ接合 ,  *電流電圧特性 ,  *ランタン ,  *マンガン ,  *ドーパント ,  電流密度 ,  強誘電性 ,  分極 ,  スイッチング ,  界面 ,  電荷分布 ,  強誘電体 ,  半導体 ,  電気伝導 ,  X線回折 ,  原子間力顕微鏡 ,  スペクトル ,  バンド構造 ,  ダイオード
準シソーラス用語： 光透過スペクトル ,  電場依存性

分類 (1件)： その他の接合  (BM03088W)

タイトルに関連する用語 (7件)： BiFeO3 ,  ZnO ,  ヘテロ接合 ,  電流電圧特性 ,  La ,  Mn ,  ドーパント