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J-GLOBAL ID：201202270545868800   整理番号：12A0654927

多元素微粒子プローブアレイ標識による1細胞in situ発現解析を目指すアダプティブSEMの開発

著者 (6件)： KIM Hyonchol (神奈川科学技術アカデミー) ,  寺薗英之 (神奈川科学技術アカデミー) ,  竹井弘之 (神奈川科学技術アカデミー) ,  竹井弘之 (東洋大 生命科学) ,  安田賢二 (神奈川科学技術アカデミー) ,  安田賢二 (東京医歯大 生体材料工研 システム研究部門情報分野)
資料名： 顕微鏡  (Microscopy)
巻： 47  号： 1  ページ： 59-64  発行年： 2012年03月30日 
JST資料番号： Y0541A  ISSN： 1349-0958  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本稿では,標的分子の空間局在分布を1細胞単位で網羅的に計測することを可能とするために,様々な粒径・元素のナノ粒子を作成して標識プローブセットとし,標的分子を標識後,粒子の元素種類を反射電子計測(BE計測)により特定するアダプティブ電子顕微鏡技術の要素技術開発について紹介した。真空蒸着法を応用して500種類以上の中空カップ状ナノ粒子を作製することに成功し,粒径と元素膜厚が均一であることから,BE計測時の輝度が揃っており,アダプティブ電子顕微鏡技術のコンセプト達成に適していることが分かった。また,薄膜試料を用いたBE計測評価では,少なくとも6種類の異なる元素を輝度比1.3倍以上で識別可能であることを確認し,さらにその上に10mm以下Au層を形成した場合も適切な加速電圧値を選択することにより,同様の輝度比で識別可能であること,薄膜試料の結果はナノ粒子標識にも適用可能であることを示した。

シソーラス用語： *走査電子顕微鏡 ,  ナノ粒子 ,  標識 ,  *反射電子回折 ,  微粒子 ,  金属微粒子
準シソーラス用語： SEM【顕微鏡】 ,  *アダプティブ電子顕微鏡

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

引用文献 (13件)：

• SCHENA, M. Science. 1995, 270, 467-470
• LOCKHART, D. J. Nat. Biotechnol. 1996, 14, 1675-1680
• RUDKIN, G. T. Nature. 1977, 265, 472-473
• NEDERLOF, P. M. Cytometry. 1989, 10, 20-27
• KOECK, P. J. B. Micron. 1996, 27, 157-165

タイトルに関連する用語 (9件)： 元素 ,  微粒子 ,  プローブ ,  アレイ ,  標識 ,  細胞 ,  発現解析 ,  SEM ,  開発