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J-GLOBAL ID：201202271264030081   整理番号：12A0368726

離散光源法による貴金属膜内及び膜上部の粒子に対する特異散乱効果の解析

Analysis of the extreme scattering effect for particles inside and above a noble metal film via the discrete sources method

著者 (4件)： EREMINA Elena (Univ. Bremen, Bremen, DEU) ,  EREMIN Yuri (Moscow Lomonosov State Univ., Moscow, RUS) ,  GRISHINA Natalia (Moscow Lomonosov State Univ., Moscow, RUS) ,  WRIEDT Thomas (Inst. fuer Werkstofftechnik, Bremen, DEU)
資料名： Journal of Optics  (Journal of Optics)
巻： 14  号： 1  ページ： 015001,1-11  発行年： 2012年01月 
JST資料番号： D0538C  ISSN： 2040-8978  CODEN： JOOPCA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文において,ガラスプリズム上に蒸着した金膜の内部と膜上に位置する両方の粒子に対する特異散乱効果(ESE)を解析するために,離散光源法(DSM)を適用した。DSMは,散乱問題を扱うのに最も融通がきき安価な方法のひとつであると考えられる。ESEは,臨界角の後のエバネセント波領域において生じるP-偏光に対する散乱強度の鋭い増加効果である。さらに,強度増加は,透過方向だけではなく散乱方向においても現れる。この効果は,金属膜の厚さや粒子直径には依存せず,これは膜材料によって強く影響される。本論文において,透過断面積(TCS)や反射断面積(RCS)および膜中の表面プラズモン共鳴とそれらとの相関性などの様々な散乱特性を調べて論じた。TCSおよびRCSを入射角に対して解析した。粒子と金薄膜との間に介在する薄い透明スペーサー層がその散乱特性に及ぼす影響の解析を行った。薄い透明スペーサー層は,金属粒子に対して散乱強度を強く増すことを可能にするけれども,誘電体粒子に対しては影響が無いことが示された。微分散乱断面積は,前方および後方散乱における場の分布を調べるものであると考えられる。

シソーラス用語： *金属薄膜 ,  ケイ素 ,  *ナノ粒子 ,  偏光 ,  入射角 ,  臨界 ,  *光散乱 ,  プラズマ共鳴 ,  エバネセント波 ,  断面積 ,  粒径 ,  多層膜 ,  微分断面積 ,  銅 ,  銀
準シソーラス用語： Ag ,  Cu ,  Si ,  ケイ素ナノ粒子 ,  金薄膜 ,  散乱断面積 ,  表面プラズモン共鳴 ,  粒子直径 ,  臨界角

分類 (2件)： 光の散乱,回折,干渉  (BD03030M) ,  電磁気学一般  (BD01020N)

タイトルに関連する用語 (3件)： 金属膜 ,  散乱 ,  解析