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J-GLOBAL ID：201202272269848402   整理番号：12A1162080

多状態劣化のもとでの状態監視装置に対するパラメータ推定

A parameter estimation method for a condition-monitored device under multi-state deterioration

著者 (2件)： MOGHADDASS Ramin (Reliability Res. Lab, Dep. of Mechanical Engineering, Univ. of Alberta, Edmonton, CAN) ,  ZUO Ming J. (Reliability Res. Lab, Dep. of Mechanical Engineering, Univ. of Alberta, Edmonton, CAN)
資料名： Reliability Engineering & System Safety  (Reliability Engineering & System Safety)
巻： 106  ページ： 94-103  発行年： 2012年10月 
JST資料番号： D0980B  ISSN： 0951-8320  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ランダム衝撃,疲労,段階的劣化のもとにある機械装置の全性能は時間と共に連続劣化を起こしかねず,多状態健全状態をもたらす。この劣化は劣化の相対次数を反映する,多離散状態を有する連続時間劣化プロセスによって表現できる。本論文では,多状態劣化を有する状態監視装置に焦点を当てている。ここでその劣化状態は直接観測できず,不完全な情報のみが状態監視を通じて利用できる。この多状態装置をモデル化した後に,教師なしパラメータ推定法を開発する。これは劣化プロセスと観測プロセスの未知の特性パラメータを推定するために,履歴状態監視情報を使用している。数値実験によって結果を評価する。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *パラメータ推定 ,  監視 ,  *監視装置 ,  劣化 ,  モデリング ,  誤差 ,  教師なし学習 ,  隠れMarkovモデル ,  CPU時間 ,  機械
準シソーラス用語： 状態監視 ,  RMSE【誤差】 ,  機械装置

分類 (1件)： システム同定  (IA02040O)

タイトルに関連する用語 (2件)： 監視装置 ,  パラメータ推定