抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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電子写真の画像形成材料であるトナー表面の電荷分布を走査型プローブ顕微鏡(SPM)を用いて測定する方法を検討した。ケルビンフォース顕微鏡(KFM)で測定される表面電位の意味を解析的に明らかにし,境界要素法による静電場の解析によりKFM測定値をシミュレーとした。その結果,KFMで測定される表面電位分布は,実際の電荷分布よりも大きな広がりを持つことが判明した。次いで,KFM計測で得られる表面電位分布を用いて,電荷分布を逆解析する方法を示すとともに,SPM探針に誘導される電荷の測定値を用いて逆解析する方法を開発した。