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J-GLOBAL ID：201202274165731620   整理番号：12A0549641

せん断変形を伴った超伝導体膜中の対破壊電流密度

Depairing current density in superconducting film with shear deformation

著者 (2件)： YONG Huadong (Key Lab. of Mechanics on Disaster and Environment in Western China, Ministry of Education of China, and Dep. of ...) ,  ZHOU Youhe (Key Lab. of Mechanics on Disaster and Environment in Western China, Ministry of Education of China, and Dep. of ...)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 111  号： 5  ページ： 053929-053929-5  発行年： 2012年03月01日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： この論文では,超伝導体膜中の対破壊電流密度へのせん断変形の影響を理論的に扱った。改訂した有効自由エネルギーをせん断変形への秩序パラメータの依存性に関連して提案した。弾性論に基づくと結合エネルギーは体積変化エネルギーとずれ歪エネルギーの和と成る。対破壊電流密度の複雑な変形依存性を得た。結果は,せん断変形が電流密度の劣化に重要な役割を演じていることを明らかにした。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *剪断 ,  *変形 ,  *超伝導体 ,  *Cooper対 ,  *自由エネルギー ,  歪 ,  *電流密度 ,  秩序パラメータ ,  結合エネルギー

分類 (1件)： 超伝導体の物性一般  (BM04021A)

タイトルに関連する用語 (3件)： せん断変形 ,  破壊 ,  電流密度