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J-GLOBAL ID：201202277644556068   整理番号：12A1743820

有機発光ダイオードのその場寿命試験

In situ lifetime testing of organic light emitting diodes

著者 (5件)： MERKEL C. W. (Univ. Toronto, Ontario, CAN) ,  HELANDER M. G. (Univ. Toronto, Ontario, CAN) ,  QIU J. (Univ. Toronto, Ontario, CAN) ,  LU Z. H. (Univ. Toronto, Ontario, CAN) ,  LU Z. H. (Yunnan Univ., Kunming, CHN)
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 8476  ページ： 847622.1-847622.14  発行年： 2012年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 有機発光ダイオード(OLED)の速い劣化速度が,その商業利用の壁となっている。OLEDの劣化機構を迅速に発見し理解することを目的に,多数のOLED素子を同時に駆動し,寿命パラメーターを収集する寿命試験システムを開発した。このシステム全体は超高真空条件下に置き,合成した素子をその場で大気に曝さず解析するよう構成した。

シソーラス用語： *発光ダイオード ,  *寿命試験 ,  試験装置 ,  自動計測 ,  計測 ,  真空容器 ,  超高真空 ,  開発
準シソーラス用語： その場測定 ,  自動化測定 ,  OLED ,  装置開発

分類 (2件)： 発光素子  (NC03082G) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (2件)： 有機発光ダイオード ,  寿命試験