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J-GLOBAL ID：201202279107177762   整理番号：12A0562410

variostage小角X線散乱法による引張試験中に高分子ナノ複合材料中の粘土小板の分散と配向変化の研究

Study of change in dispersion and orientation of clay platelets in a polymer nanocomposite during tensile test by variostage small-angle X-ray scattering

著者 (4件)： BANDYOPADHYAY Jayita (DST/CSIR NIC, National Centre for Nano-Structured Materials, Council for Scientific and Industrial Res., Pretoria ...) ,  MALWELA Thomas (DST/CSIR NIC, National Centre for Nano-Structured Materials, Council for Scientific and Industrial Res., Pretoria ...) ,  RAY Suprakas Sinha (DST/CSIR NIC, National Centre for Nano-Structured Materials, Council for Scientific and Industrial Res., Pretoria ...) ,  RAY Suprakas Sinha (Dep. of Chemical Technol., Univ. of Johannesburg, Doornfontein 2018, Johannesburg, South Africa)
資料名： Polymer  (Polymer)
巻： 53  号： 8  ページ： 1747-1759  発行年： 2012年04月03日 
JST資料番号： D0472B  ISSN： 0032-3861  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 引張試験中の三次元空間中の粘土小板の分散と配向性の変化を理解するため,ニート重合体とそのナノ複合材料試料を小角および広角X線散乱(SWAXS)によって検討した。引張試験後の試料を,入射X線ビームに対してそれらを傾斜および回転させ,また異なる位置で走査することによって検討した。傾斜角の測定は,ナノ複合材料の粘土小板の分散と配向に関するより良い理解を提供した。一方,回転および走査測定は,引張延伸時および結晶化度パーセントによる高分子結晶面の配向に関する詳細情報を明らかにした。最後に,集束イオンビーム電子線トモグラフィーを,SWAXS分析に基づき提案された粘土小板の分散と配向モデルを支持するために採用した。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *小角X線散乱 ,  *引張試験 ,  *ナノ複合材料 ,  *分散【dispersion】 ,  *分子配向 ,  *粘土 ,  モンモリロナイト ,  第四アンモニウム ,  *原位置試験 ,  X線散乱 ,  大角散乱 ,  電子回折 ,  トモグラフィー ,  イオンビーム ,  モルフォロジー ,  高分子有機-無機ハイブリッド ,  ポリブチレンサクシネート ,  ポリブチレンアジペート ,  共重合体 ,  生分解性高分子 ,  結晶性高分子
準シソーラス用語： PBSA【高分子】 ,  広角X線散乱 ,  電子線トモグラフィー

分類 (2件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M) ,  充填剤,補強材  (YH05030J)

タイトルに関連する用語 (6件)： 小角X線散乱 ,  引張試験 ,  高分子ナノ複合材料 ,  粘土 ,  配向 ,  研究