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J-GLOBAL ID：201202280282531305   整理番号：12A0721067

コヒーレントX線を使ったナノ世界の探検

Exploring the Nanoworld using Coherent X-rays

著者 (3件)： NISHINO Yoshinori (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  NEWTON Marcus C. (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  KIMURA Takashi (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
資料名： Abstracts. RIES-Hokudai International Symposium  (Abstracts. RIES-Hokudai International Symposium)
巻： 12th  ページ： 15-17  発行年： 2011年 
JST資料番号： L3994A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *X線 ,  *コヒーレンス ,  X線回折 ,  *X線画像 ,  シンクロトロン放射 ,  *自由電子レーザ ,  *三次元測定 ,  染色体 ,  *ナノ構造 ,  X線トポグラフィー ,  *構造解析 ,  オルガネラ ,  *X線レーザ ,  放射光施設 ,  X線自由電子レーザ
準シソーラス用語： コヒーレントX線 ,  人の染色体 ,  X線回折顕微鏡法 ,  XFEL ,  SACLA

分類 (2件)： レーザの応用  (BD04100V) ,  構造決定法・回折結晶学一般  (BK01010X)

タイトルに関連する用語 (3件)： コヒーレントX線 ,  世界 ,  探検