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J-GLOBAL ID:201202282058884769   整理番号:12A0430617

シリコンに化学的に貼り付けた単層,2層および多層カーボンナノチューブからの電界放出

Field emission from single-, double-, and multi-walled carbon nanotubes chemically attached to silicon
著者 (6件):
資料名:
巻: 111  号:ページ: 044326  発行年: 2012年02月15日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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シリコン基板に化学的に貼り付けた単層カーボンナノチューブ(SWCNT),2層カーボンナノチューブ(DWCNT),および多層カーボンナノチューブ(MWCNT)の化学接着および電界放出(FE)特性を調べた。原子間力顕微鏡観察から,CNTは高密度に貼り付き,それらの配向はCNTのタイプにより異なることが分かった。Raman分光により基板面上のCNTのタイプと直径を確認した。CNT面の電界放出特性を調べ,電流-電圧曲線とFowler-Nordheimプロットを得た。SWCNTは優れたFE特性を示し,ターンオン電圧(Eto)は1.28Vμm-,電界増強因子(β)は5587であった。DWCT面ではEtoは1.91Vμm-,βは4748であり,MWCNT面ではEtoは2.79Vμm-であり,βは3069であった。それぞれのタイプの放出安定性を調べたところ,SWCNTが最も安定な放出を示すことが分かった。このFE特性と安定性の差異は,CNTの直径,垂直配向性,結晶性により説明できる。これらの結果は,基板との接着強度とCNTの結晶性がFEの安定性に主要な役割を果たすことを示唆する。他のFE研究との比較を行い,デバイス応用の可能性を議論した。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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熱電子放出,電界放出 

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