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J-GLOBAL ID：201202282743436140   整理番号：12A0964973

照射ポリイミドの陽電子消滅寿命

Positron Annihilation Lifetime of Irradiated Polyimide

著者 (6件)： HIRADE T. (JAEA) ,  HIRADE T. (Ibaraki Univ.) ,  OKA T. (JAEA) ,  MORISHITA N. (JAEA) ,  IDESAKI A. (JAEA) ,  SHIMADA A. (JAEA)
資料名： 日本原子力研究開発機構JAEA-Review(Web)
号： 2011-043  ページ： 4-21 (WEB ONLY)  発行年： 2012年01月 
JST資料番号： U0296A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Kaptonにおける自由陽電子消滅寿命(τ)の温度依存性を測定し,高温において,τが長いことがわかった。τはポリマの自由体積により影響されることを示している。電子ビーム照射によりτが変化することも分かった。これは橋架けにより自由体積が変化することを示している。自由陽電子消滅寿命はポジトロニウムを形成しないポリマの研究の強力なツールである。

シソーラス用語： *PMDA-ODA ,  電子照射 ,  *陽電子消滅 ,  *寿命 ,  温度依存性 ,  自由体積 ,  放射線架橋
準シソーラス用語： *Kapton

分類 (1件)： 放射線高分子化学  (CG03050S)

引用文献 (2件)：

• 1) O.E. Mogensen, J. Chem. Phys. 60, (1974) 998.
• 2) T. Hirade et al., physica status solidi (c) 4, 10 (2007) 3714.

タイトルに関連する用語 (2件)： ポリイミド ,  陽電子消滅寿命