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J-GLOBAL ID：201202285862372303   整理番号：12A1053321

マイクロ波キネティックインダクタンス検出器のための珪化タングステンフィルム

Tungsten silicide films for microwave kinetic inductance detectors

著者 (7件)： CECIL Thomas (X-ray Sci. Div., Argonne National Lab., Argonne, Illinois 60439, USA) ,  MICELI Antonino (X-ray Sci. Div., Argonne National Lab., Argonne, Illinois 60439, USA) ,  QUARANTA Orlando (X-ray Sci. Div., Argonne National Lab., Argonne, Illinois 60439, USA) ,  LIU Chian (X-ray Sci. Div., Argonne National Lab., Argonne, Illinois 60439, USA) ,  ROSENMANN Daniel (Center for Nanoscale Materials, Argonne National Lab., Argonne, Illinois 60439, USA) ,  MCHUGH Sean (Dep. of Physics, Univ. of California, Santa Barbara, California 93106, USA) ,  MAZIN Benjamin (Dep. of Physics, Univ. of California, Santa Barbara, California 93106, USA)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 101  号： 3  ページ： 032601-032601-4  発行年： 2012年07月16日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マイクロ波キネティックインダクタンス検出器は,高度に多重化した,サブミリからX線領域まで働くことができるように配置した検出器の配列を必要とする。著者達は2つの珪化タングステン合金(W₅Si₃及びWSi₂)を調べた,これらは高密度合金で臨界温度が組成により調製でき,大きなキネティックインダクタンスと高い通常状態抵抗を持つ。著者達は超伝導共振器を作り,臨界温度,表面抵抗,品質因子,雑音,そして準粒子寿命についての測定データを用意した。珪化タングステンはマイクロ波キネティックインダクタンス検出器として有望に思われる。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *ケイ化物 ,  *タングステン化合物 ,  *検出器 ,  *マイクロ波 ,  配列 ,  インダクタンス ,  *空洞共振器 ,  サブミリ波 ,  X線 ,  臨界温度 ,  表面抵抗 ,  雑音 ,  因子 ,  寿命
準シソーラス用語： ケイ化タングステン ,  マイクロ波キネティックインダクタンス検出器 ,  マイクロ波検出器 ,  キネティックインダクタンス ,  *超伝導共振器 ,  品質因子 ,  準粒子寿命

分類 (2件)： 赤外・遠赤外領域の測光と光検出器  (BD07032W) ,  X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (4件)： マイクロ波 ,  検出器 ,  珪化タングステン ,  フィルム