抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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本研究では,非接触式の外観検査装置への適用を目的とし,逆光線追跡法に基づく3次元形状計測法のプロトタイプを構築した。これにより得た主な知見を次に示した。1)2台の画像センサを用いて測定対象からの反射光を観測し,いかなる表面反射特性を有する測定対象でも,その反射光線軌跡を厳密に計算できること,これにより,拡散物体でも鏡面物体でも区別なく計測できること,2)測定対象の3次元CADデータを利用したレーザ走査シミュレータを開発し,コンピュータ上で3次元形状計測に有効な投光パターンを検証できること,これにより,実機での無駄な投光走査を軽減でき,計測の効率化ができること,3)レーザ走査シミュレータによる効果として,平板に対して無駄な投光走査を97.7%軽減できること,さらに鏡面物体と拡散物体を区別することなく,その3次元形状を計測できることを確認し,外観検査装置としての適用可能性を示したこと。