ROUGEMAILLE N. について
Inst. NEEL, CNRS & Univ. Joseph Fourier, BP166, F-38042 Grenoble Cedex 9, FRA について
N’DIAYE A. T. について
National Center for Electron Microscopy, Lawrence Berkeley National Lab., One Cyclotron Road, Berkeley, California ... について
CORAUX J. について
Inst. NEEL, CNRS & Univ. Joseph Fourier, BP166, F-38042 Grenoble Cedex 9, FRA について
VO-VAN C. について
Inst. NEEL, CNRS & Univ. Joseph Fourier, BP166, F-38042 Grenoble Cedex 9, FRA について
FRUCHART O. について
Inst. NEEL, CNRS & Univ. Joseph Fourier, BP166, F-38042 Grenoble Cedex 9, FRA について
SCHMID A. K. について
National Center for Electron Microscopy, Lawrence Berkeley National Lab., One Cyclotron Road, Berkeley, California ... について
Applied Physics Letters について
炭素材 について
イリジウム について
コバルト について
金属薄膜 について
磁性薄膜 について
スピン分極 について
Auger分光法 について
挿入 について
垂直磁気異方性 について
配位混合 について
グラフェン について
軌道混成 について
低速電子顕微鏡 について
金属の磁気異方性・磁気機械効果 について
グラフェン について
コバルト について
薄膜 について
垂直磁気異方性 について