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J-GLOBAL ID:201202294348526651   整理番号:12A1215992

超高速過渡ホットストリップ法による薄膜と被膜の熱伝導率測定

Measuring thermal conductivity of thin films and coatings with the ultra-fast transient hot-strip technique
著者 (5件):
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巻: 45  号: 29  ページ: 295303,1-11  発行年: 2012年07月25日 
JST資料番号: B0092B  ISSN: 0022-3727  CODEN: JPAPBE  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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厚みが10nm~数十μmの誘電体薄膜と被膜の熱伝導率を精密に測定した。試料膜上にパターン形成した金属化マイクロストリップ(20μm×200μm)に電気パルスを印加し,温度上昇を100ns~10μsの時間内に解析した。三次元熱拡散モデルから導いた試料の時間依存する熱インピーダンスから膜の熱伝導率を導いた。実験は塊状Siと非晶質SiO2及び窒化アルミニウム結晶を用いて行った。本方法により,10-8Km2W-1の低い熱伝導率を約10%の精度で測定できた。
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分類 (1件):
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非金属のその他の熱的性質 
タイトルに関連する用語 (3件):
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