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J-GLOBAL ID：201202294492423026   整理番号：12A1112011

表面下センシングに対して走査型スリットプローブを用いた60GHz近傍場6ポート顕微鏡

60-GHz Near-Field Six-Port Microscope Using a Scanning Slit Probe for Subsurface Sensing

著者 (2件)： HADDADI Kamel (Univ. Sci. et Technol. Lille, Villeneuve d’Ascq, FRA) ,  LASRI Tuami (Univ. Sci. et Technol. Lille, Villeneuve d’Ascq, FRA)
資料名： IEEE Sensors Journal  (IEEE Sensors Journal)
巻： 12  号： 7-8  ページ： 2575-2576  発行年： 2012年07月 
JST資料番号： W1318A  ISSN： 1530-437X  CODEN： ISJEAZ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ミリ波非破壊表面下検出に対して走査型スリットプローブ(SP)を用いた近傍場6点顕微鏡を開発した。このシステムは,60GHz信号源,6ポートアナライザ,データ処理系,位置制御系,試料を置くxyzステージ,及びSPから成る。6点反射率計とSPの組合せを用いて高価なヘテロダイン法を代替した。このシステムは小型で頑健かつ安価である。空間分解能を実測し,性能を確認した。

シソーラス用語： *顕微鏡 ,  *EHF波 ,  電磁波走査 ,  非破壊検査 ,  プローブ ,  近傍場 ,  システム設計 ,  反射率計 ,  表面 ,  顕微鏡観察 ,  *電磁波反射
準シソーラス用語： スリット【構造】 ,  ミリ波 ,  多点測定

分類 (1件)： 電磁気学一般  (BD01020N)

タイトルに関連する用語 (7件)： センシング ,  走査型 ,  スリット ,  プローブ ,  近傍場 ,  ポート ,  顕微鏡