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J-GLOBAL ID：201202296058935208   整理番号：12A1194146

シンクロトロン源におけるピコ秒励起状態寿命の測定

Measuring picosecond excited-state lifetimes at synchrotron sources

著者 (2件)： FOURNIER Bertrand (State Univ. New York, NY, USA) ,  COPPENS Philip (State Univ. New York, NY, USA)
資料名： Journal of Synchrotron Radiation  (Journal of Synchrotron Radiation)
巻： 19  号： 4  ページ： 497-502  発行年： 2012年07月 
JST資料番号： W0763A  ISSN： 0909-0495  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 結晶の中の感光種の短い励起状態寿命の測定の,新しい解析法を述べた。この光結晶学技法に基づく方法は,分光法の代替であり,非ルミネッセンス励起種にも有効である。寿命τの大きさによって,二つの異なるアプローチを述べた。シンクロトロンパルスの幅以下の非常に短い寿命ではτの評価は,ポンプ-プローブ遅延時間Δtの関数として,最大システム応答の発生から得られる。短い及びより長い両方の寿命ではより精密な評価が,応答のモデルの改良によって,Δtの関数として達成できる。その方法は寿命40~100psの励起種の構造決定の可能性の提供もする。

シソーラス用語： シンクロトロン放射 ,  放射光施設 ,  *励起状態 ,  *寿命 ,  ピコ秒 ,  計測 ,  結晶 ,  時間 ,  遅延特性 ,  ポンププローブ法 ,  モデル ,  構造 ,  決定
準シソーラス用語： 測定

分類 (1件)： 電子構造一般  (BM02010K)

タイトルに関連する用語 (4件)： シンクロトロン ,  ピコ秒 ,  励起状態 ,  寿命