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J-GLOBAL ID：201202296292722552   整理番号：12A0808603

水素センサ応用を目的としたC-Pd膜中のPd含量の研究

Investigation of Pd content in C-Pd films for hydrogen sensor applications

著者 (4件)： KOWALSKA Ewa (Tele and Radio Res. Inst., Ratuszowa 11 Street, 03-450, Warsaw, POL) ,  CZERWOSZ Elzbieta (Tele and Radio Res. Inst., Ratuszowa 11 Street, 03-450, Warsaw, POL) ,  KAMINSKA Anna (Tele and Radio Res. Inst., Ratuszowa 11 Street, 03-450, Warsaw, POL) ,  KOZLOWSKI Miroslaw (Tele and Radio Res. Inst., Ratuszowa 11 Street, 03-450, Warsaw, POL)
資料名： Journal of Thermal Analysis and Calorimetry  (Journal of Thermal Analysis and Calorimetry)
巻： 108  号： 3  ページ： 1017-1023  発行年： 2012年06月 
JST資料番号： H0095C  ISSN： 1388-6150  CODEN： JTHEA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノ複合材料炭素質-パラジウム(Nc-C-Pd)膜を物理気相蒸着法(PVD)により合成した。走査電子顕微鏡研究より,それらがPdナノ粒子を含む炭素質マトリックスから成ることを示した。Nc-C-Pd膜をまた熱重量分析,X線粉末回折およびFourier変換赤外(FTIR)分光分析によりキャラクタライズした。異なるPVD条件で合成した膜中のPd含量をTG測定に基づいて求めた。PVDプロセスの技術的パラメータはC/Pd比に影響を与えた。FTIRスペクトルは炭素質-パラジウム試料の前駆体(フラーレンC₆₀および酢酸パラジウム)に特徴的な吸収バンドを示した。水素存在下(1%H₂/N₂)で抵抗を測定することにより,膜の電気的性質における水素の影響を評価した。Copyright 2011 Akademiai Kiado, Budapest, Hungary Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *パラジウム化合物 ,  *物理蒸着 ,  *熱重量分析 ,  電子顕微鏡観察 ,  *ガスセンサ ,  フラーレンC60 ,  ナノ粒子 ,  X線回折 ,  赤外吸収スペクトル ,  *水素 ,  アルミナ ,  *電気抵抗率
準シソーラス用語： FTIRスペクトル ,  X線粉末回折 ,  水素センサ ,  組成依存性

分類 (2件)： 無機化合物の電気分析  (CC05024D) ,  分析機器  (CC02020S)

物質索引 (1件)： 酢酸パラジウム

タイトルに関連する用語 (6件)： 水素センサ ,  応用 ,  Pd膜 ,  Pd ,  含量 ,  研究