抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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”生成検査+α”は,検査を通過する全ての解をエミュレートする通常の生成&検査計算後に,最適解の選択のような幾つかの特別な計算を実行する計算パターンである。生成-検査-αの新しい並列アルゴリズムは,並列スケルトンの構成として与えられることが出来るが,生成候補の数が大きい時,重い計算コストが問題になる。そのような場合,しばしば,ソースデータ構造からの一組の部分構造を発生する時に生じる。検査位相の無いあるクラスの簡易計算がセミリングを展開する系統的変換を実施することによって,十分な線形コストアルゴリズムが与えられることが出来る。しかしながら,変換は,均一に生成-検査-α計算を最適化することは分かってない。この論文では,生成-検査-α計算が簡易生成-α計算に変換されることが出来るようにセミリングに検査位相を埋め込む新しい変換を提案した。この変換は,生成-検査-α計算のための生成-αの効率的な並列アルゴリズムの再使用を可能にしている。更に,広範囲のクラスの生成-検査-α計算に対して均一最適化ヲ与えることが出来るように,一組の生成-α計算のための強力な最適化手法を与えている。(翻訳著者抄録)
