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J-GLOBAL ID:201202296378047343   整理番号:12A0712454

イオンプローブ付着イオン化のためのランタニド系イオンプローブのCSI-MS(コールドスプレイイオン化-質量分析法)測定

CSI-MS Measurement of Lanthanide-Series Ionic Probes for Ionic Probe Attachment Ionization
著者 (3件):
資料名:
巻: 60  号:ページ: 33-36 (J-STAGE)  発行年: 2012年 
JST資料番号: G0046A  ISSN: 1340-8097  CODEN: JMSJEY  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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テトラメチル2,6-ビス(オキサゾリニル)ピリジン(TMpybox)配位子を含むランタニド元素錯体ベースのイオンプローブを用いたイオンプローブ付着イオン化と称する新しいイオン化法を開発した。NHS-TMpybox結合リジンを用いて,このランタニド系イオンプローブのコールドスプレイイオン化質量スペクトルを示した。低スプレイ温度で各錯体の安定性を決定することによって,これら金属の基本的性質であるランタニド元素の配位能力を評価した。(翻訳著者抄録)
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分類 (4件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
分析試薬  ,  第3族元素の錯体  ,  熱電子放出,電界放出  ,  質量分析 

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