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J-GLOBAL ID：201202298709705144   整理番号：12A0685202

Er³⁺ドープリンテルライトガラス薄膜の光学的および微細構造特性の向上

Enhancement in optical and microstructure properties of Er³⁺-doped phospho-tellurite glass thin film

著者 (4件)： IRANNEJAD M. (Inst. for Materials Res., School of Process, Environmental and Materials Engineering, Univ. of Leeds, Leeds LS2 9JT, GBR) ,  JOSE G. (Inst. for Materials Res., School of Process, Environmental and Materials Engineering, Univ. of Leeds, Leeds LS2 9JT, GBR) ,  STEENSON P. (Inst. of Microwaves and Photonics, School of Electronic and Electrical Engineering, Univ. of Leeds, Leeds LS2 9JT, GBR) ,  JHA A. (Inst. for Materials Res., School of Process, Environmental and Materials Engineering, Univ. of Leeds, Leeds LS2 9JT, GBR)
資料名： Optical Materials  (Optical Materials)
巻： 34  号： 8  ページ： 1272-1276  発行年： 2012年06月 
JST資料番号： W0468A  ISSN： 0925-3467  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表面構造とEr³⁺:⁴I_13/2→⁴I_15/2光学遷移のフォトルミネセンス寿命は集積光導波路増幅器用のガラス薄膜の可能性を決める二つの大きな要因である。ここでは,パルスレーザ堆積法で成長したリンテルライト(PT)ガラス薄膜の表面構造に対するいろいろな雰囲気ガス,すなわち純O₂とO₂-He混合ガスの効果を調べた。O₂-Heガスの存在下で堆積した薄膜の表面解析は,純酸素の低背圧を使って堆積した薄膜と比較して滑らかな表面とより小さい粒子サイズを示し,測定した伝送損失は0.78から0.41dB/cmに低減した。PTガラス薄膜の上にシリカの薄層を堆積すると,後堆積のOH吸収の約500cm^-1以上の低減の結果としてEr³⁺:⁴I_13/2→⁴I_15/2の光学遷移の測定寿命が増加することが分かった。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *ガラス ,  非線形光学材料 ,  リン化合物 ,  テルル酸塩 ,  *エルビウム ,  *ドーピング ,  *光ルミネセンス ,  赤外発光スペクトル ,  電子遷移 ,  光導波路 ,  伝送損失 ,  *レーザ蒸着 ,  パルスレーザ照射 ,  表面構造 ,  薄膜 ,  蛍光寿命 ,  光通信
準シソーラス用語： *テルライトガラス ,  光学遷移

分類 (3件)： 無機化合物のルミネセンス  (BM08093J) ,  ガラスの性質・分析・試験  (YC02030Z) ,  酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (5件)： Er3+ ,  薄膜 ,  光学 ,  微細 ,  構造特性