特許
J-GLOBAL ID：201203000466726908
3次元計測装置及び3次元計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡辺 三彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-201605
公開番号（公開出願番号）：特開2012-058076
出願日： 2010年09月09日
公開日（公表日）： 2012年03月22日
要約：
【課題】1回の撮影で視野全体の3次元形状について、その特徴を漏れなく計測することができる3次元計測装置及び3次元計測方法を提供する。【解決手段】 複数方向の複数の直線及び/又は曲線状のレーザラインにより構成されるレーザパタンをレーザ投影手段から計測対象物に投影し、該レーザパタンが投影された計測対象物を異なる方向から撮影して第1の画像及び第2の画像を取得し、この第1の画像及び前記第2の画像からレーザラインを抽出し、第1の画像のレーザライン点に対応する第2の画像のレーザライン点の対応点候補の3次元座標を夫々求め、該3次元座標を前記レーザ投影手段に設定される投影手段座標系に変換して前記レーザパタンが構成されているレーザパタン平面に射影した夫々の射影点が前記レーザパタン上にあるか否かを判定することにより、対応点を求める。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
複数方向の複数の直線及び/又は曲線状のレーザラインにより構成されるレーザパタンを計測対象物に投影するレーザ投影手段と、
前記レーザパタンが投影された計測対象物を撮影して第1の画像を取得する第1撮像手段及び該第1撮像手段と異なる方向から前記レーザパタンが投影された計測対象物を撮影して第2の画像を取得する第2撮像手段を有するステレオカメラと、
前記第1の画像及び前記第2の画像から前記レーザラインを抽出するレーザライン抽出手段と、
前記第1の画像のレーザライン点に対応する前記第2の画像のレーザラインの対応点を求める対応点探索手段と、を備えることを特徴とする3次元計測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B11/25 H
, G01B11/245 H
2F065AA04
, 2F065AA53
, 2F065BB06
, 2F065BB08
, 2F065EE00
, 2F065FF05
, 2F065FF09
, 2F065FF61
, 2F065GG04
, 2F065HH06
, 2F065HH07
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065LL41
, 2F065QQ00
, 2F065QQ17
