X線回折装置及びX線回折の測定方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：磯野道造 , 多田悦夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-254443
公開番号（公開出願番号）：特開2012-103224
出願日： 2010年11月15日
公開日（公表日）： 2012年05月31日
要約：

【課題】従来は測定し難かった測定対象物であっても容易に測定できるX線回折装置及びX線回折の測定方法を提供する。【解決手段】X線を照射するX線照射源1と、X線が測定対象物9に照射されて回折したX線を検出する検出器2と、X線照射源1と検出器2とを移動可能に支持する支持部材10と、を備えているX線回折装置100であって、支持部材10は、直交する二軸のそれぞれの軸方向に、それぞれ独立して移動可能な第1の位置決め手段13及び第2の位置決め手段14と、二軸に垂直な軸の軸方向に移動可能な第3の位置決め手段15とを備え、X線照射源1及び検出器2が固定された第1の位置決め手段13、第2の位置決め手段14及び第3の位置決め手段15が所定の位置に移動することにより、X線の照射位置及び回折したX線の検出位置が決定されるように構成されているX線回折装置。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

X線を照射するX線照射源と、前記X線が測定対象物に照射されて回折した前記X線を検出する検出器と、前記X線照射源と前記検出器とを移動可能に支持する支持部材と、を備えているX線回折装置であって、前記支持部材は、直交する二軸のそれぞれの軸方向に、それぞれ独立して移動可能な第1の位置決め手段及び第2の位置決め手段と、前記二軸に垂直な軸の軸方向に移動可能な第3の位置決め手段とを備え、前記X線照射源及び前記検出器が固定された前記第1の位置決め手段、前記第2の位置決め手段及び前記第3の位置決め手段が所定の位置に移動することにより、前記X線の照射位置及び回折した前記X線の検出位置が決定されるように構成されていることを特徴とする、X線回折装置。

IPC (1件)：

G01N 23/207

FI (1件)：

G01N23/207

Fターム (12件)：

2G001AA01 , 2G001BA18 , 2G001CA01 , 2G001DA02 , 2G001DA09 , 2G001GA06 , 2G001HA01 , 2G001KA01 , 2G001KA08 , 2G001KA20 , 2G001MA06 , 2G001QA04

引用特許：

審査官引用 (5件)

放射分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-114901 出願人：エヌ・ベー・フイリツプス・フルーイランペンフアブリケン
X線回折装置及びX線回折システム
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-048761 出願人：財団法人鉄道総合技術研究所, 佐々木敏彦, 平塚剛一
単結晶製品板の結晶評価法及びその装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-280899 出願人：新日本製鐵株式会社

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引用文献：

審査官引用 (2件)

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