特許

J-GLOBAL ID：201203007102810916

異常検知方法及びそのシステム

発明者： 前田 俊二 ,  渋谷 久恵
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： ポレール特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-199672
公開番号（公開出願番号）：特開2012-058890
出願日： 2010年09月07日
公開日（公表日）： 2012年03月22日
要約：

【課題】プラント等の設備において、異常が同時に、あるいは短い時間間隔で複数発生しても、それらの異常が異なる種類の異常であっても、これらの異常あるいはその予兆を高感度、早期に検知することを可能にする。【解決手段】プラントまたは設備に設置した複数のセンサから稼動状態に関するデータを取得し、正常な稼動状態におけるほぼ正常データに対応する学習データをモデル化し、このモデル化した学習データを用いて複数のセンサから取得したデータの異常測度を算出し、この算出した異常測度に基づいて異常検知を行う方法において、異常測度を算出する工程において、複数のセンサから取得したデータについてモデル化した学習データからの残差を求め、予め定めた値より大きい残差をもつ信号を除去し、この大きい残差を持つ信号を除去した複数のセンサから取得したデータについて異常測度を算出することを再帰的に行って異常検知するようにした。 【選択図】図16

請求項（抜粋）：

プラントまたは設備の異常を検知する異常検知方法であって、 プラントまたは設備に設置した複数のセンサからプラントまたは設備の稼動状態に関するデータを取得し、プラントまたは設備の正常な稼動状態におけるほぼ正常データに対応する学習データをモデル化し、該モデル化した学習データを用いて前記複数のセンサから取得したデータの異常測度を算出し、該算出した異常測度に基づいて前記プラントまたは設備の異常検知を行う方法であって、前記異常測度を算出する工程において、前記複数のセンサから取得したデータについて前記モデル化した学習データからの残差を求め、予め定めた値より大きい残差をもつ信号を除去し、該大きい残差を持つ信号を除去した前記複数のセンサから取得したデータについて異常測度を算出することを再帰的に行うことにより異常検知を行うことを特徴とする異常検知方法。

IPC (1件)：

G05B 23/02

FI (4件)：

G05B23/02 302V ,  G05B23/02 F ,  G05B23/02 T ,  G05B23/02 302R

Fターム (7件)：

5H223AA02 ,  5H223BB01 ,  5H223DD03 ,  5H223DD09 ,  5H223EE30 ,  5H223FF05 ,  5H223FF06

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 異常検知方法及び異常検知システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-033380   出願人：株式会社日立製作所