特許

J-GLOBAL ID：201203010561671342

光断層像撮像装置およびその制御方法

発明者： 末平 信人 ,  牧平 朋之
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (9件)： 岡部 讓 ,  臼井 伸一 ,  越智 隆夫 ,  本宮 照久 ,  朝日 伸光 ,  高橋 誠一郎 ,  齋藤 正巳 ,  木村 克彦 ,  ▲濱▼口 岳久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-052292
公開番号（公開出願番号）：特開2012-187230
出願日： 2011年03月10日
公開日（公表日）： 2012年10月04日
要約：

【課題】 追尾機能を有する光断層像撮像装置において、断層像を取得するときに適切な走査の制御をすることができる。【解決手段】 本発明の光断層像撮像装置の制御方法は、被検眼の眼底画像を撮像する眼底画像撮像部と、被検眼の断層画像を撮像する断層像撮像部とを有し、眼底画像において、予め取得した複数の特徴領域と一致する座標の値を計算する工程、複数の座標の値の間における空間変化を計算する工程、及び計算結果に基づき、断層画像を取得するための断層像撮像部による測定光の走査を制御する工程、を有することうを特徴とする。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

異なる時間に被検眼の第1及び第2の眼底画像を取得する撮像装置の制御方法であって、 前記第1の眼底画像から複数の特徴画像を抽出する工程と、 前記第2の眼底画像から抽出した前記複数の特徴画像を探索する工程と、 抽出した前記複数の特徴画像の位置関係と探索した前記複数の特徴画像の位置関係との空間変化があるか否かを判断する工程と、 を有することを特徴とする撮像装置の制御方法。

IPC (3件)：

A61B 3/10 ,  A61B 3/12 ,  G01N 21/17

FI (3件)：

A61B3/10 R ,  A61B3/12 E ,  G01N21/17 630

Fターム (18件)：

2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE17 ,  2G059FF02 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 眼底撮影装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-176151   出願人：株式会社ニデック
• 眼底検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-003734   出願人：キヤノン株式会社