特許

J-GLOBAL ID：201203011494205052

粒子計数方法

発明者： 今井 雄大 ,  松田 朋信 ,  阿部 敏之 ,  中島 勉
出願人/特許権者： リオン株式会社
代理人 (2件)： 小山 有 ,  稲元 富保
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-266699
公開番号（公開出願番号）：特開2012-117882
出願日： 2010年11月30日
公開日（公表日）： 2012年06月21日
要約：

【課題】 計数対象となる通常粒子による散乱光の波形形状と浮遊粒子や放射線等・照射光の強度変化などの外乱による散乱光の波形形状を識別して、より正確に粒子数を計数することができる粒子計数方法を提供する。【解決手段】 試料気体に光を照射し、この光が試料気体に含まれる粒子に当たって生じる散乱光を光電変換器で検出し、この光電変換器の出力電圧波形により、粒径区分毎に粒子数を計数する粒子計数方法であって、前記出力電圧波形のピークとなる時点(T1)と立下り検知閾値(A)となる時点(Ta)から時間差(Ta-T1)を求め、この時間差(Ta-T1)が計数キャンセル時間(B)を超えた場合には、前記出力電圧波形を粒子として計数しない。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

試料気体に光を照射し、この光が試料気体に含まれる粒子に当たって生じる散乱光を光電変換器で検出し、この光電変換器の出力電圧波形により、粒径区分毎に粒子数を計数する粒子計数方法であって、前記出力電圧波形のピークとなる時点(T1)と立下り検知閾値(A)となる時点(Ta)から時間差(Ta-T1)を求め、この時間差(Ta-T1)が計数キャンセル時間(B)を超えた場合には、前記出力電圧波形を粒子として計数しないことを特徴とする粒子計数方法。

IPC (1件)：

G01N 15/02

FI (1件)：

G01N15/02 C